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X射線衍射儀進(jìn)口品牌

Name: X射線衍射儀進(jìn)口品牌
SKU: ARE X
Availability: InStock

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產(chǎn)品型號ARE X

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更新時(shí)間：2026-01-31 07:30:13瀏覽次數(shù)：87次

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產(chǎn)品分類 品牌分類

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  捷克泰思肯Tescan掃描電鏡
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  日本IMADA依夢達(dá)推拉力計(jì)
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東京精密圓度測量儀

東京精密輪廓測量儀

東京精密粗糙度輪廓儀測針

東京精密粗糙度儀

東京精密ATC振擺檢測系統(tǒng)

東京精密主動測量控制儀

東京精密主動測量裝置

東京精密筆式傳感器
  德國霍梅爾HOMMEL

德國霍梅爾粗糙度儀
  日本三豐Mitutoyo量具量儀

日本三豐深度尺

日本三豐高度尺

日本三豐夾具

日本三豐卡尺

日本三豐千分尺

日本三豐粗糙度儀

日本三豐高度儀

日本三豐千分表

日本三豐內(nèi)徑表

日本三豐硬度計(jì)

日本三豐圓度測量儀

日本三豐磁性臺架

日本三豐輪廓測量儀

日本三豐投影儀
  涂膜、遮蓋力測試
  日本NCK卡力帕卡規(guī)
  附著力測試儀

劃格器

液壓附著力測試儀
  日本TOPCON拓普康
  量具/量儀

粗糙度儀

電子數(shù)顯卡尺

激光定位儀

高度儀/測高儀
  日本A&D公司

日本A&D珠寶天平

日本A&D稱重顯示器

日本A&D傳感器

日本A&D腕式

日本A&D計(jì)數(shù)秤

日本A&D電子天平

日本A&D重量分選秤

日本A&D密度天平

日本A&D粘度計(jì)

日本A&D試驗(yàn)機(jī)
  馬波斯調(diào)零機(jī)構(gòu)
  粗糙度儀

T500/T1000粗糙度儀
  硬度計(jì)

ERICHSEN劃痕硬度儀

WEBSTER硬度鉗

德國BYK公司DUR-O-TEST硬度試驗(yàn)棒

鉛筆硬度計(jì)BYK/PTE

BYK壓痕硬度計(jì)/擺桿硬度計(jì)
  表面缺陷檢測設(shè)備
  德國卡爾蔡司Zeiss

德國蔡司橋式三坐標(biāo)測量機(jī)

德國蔡司龍門三坐標(biāo)測量機(jī)

蔡司三坐標(biāo)測量儀探針

德國蔡司懸臂三坐標(biāo)測量機(jī)

德國蔡司在線三坐標(biāo)測量機(jī)

德國蔡司全自動清潔度分析儀

德國蔡司光學(xué)掃描三坐標(biāo)測量機(jī)

德國蔡司納米測量機(jī)

德國蔡司工業(yè)CT測量機(jī)

德國蔡司體式顯微鏡

德國蔡司偏光顯微鏡

德國蔡司共聚焦顯微鏡

德國蔡司金相顯微鏡
  瑞士確力士CORREX
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德國馬爾粗糙度儀

德國馬爾高度儀

德國馬爾千分尺

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德國馬爾檢測儀

德國馬爾卡尺

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德國馬爾輪廓測量儀

德國馬爾檢定儀

德國馬爾量塊

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專業(yè)型紅外測溫儀
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北京時(shí)代測量平臺

北京時(shí)代里氏硬度計(jì)

北京時(shí)代測振儀
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合金分析儀

ROHS分析儀

礦石分析儀
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  馬爾測針
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測振儀

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其他分析儀器
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瑞士TESA高度儀

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中國臺灣路昌風(fēng)速計(jì)
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測畝儀

QFH百格刀
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日本奧林巴斯工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡
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美國奧豪斯電子天平

德國賽多利斯電子天平
  東京測范 ISSOKU
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火花直讀光譜儀

便攜式直讀光譜儀

X射線衍射儀

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粘度杯

BROOKFIELD系列粘度計(jì)
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美國施泰力投影儀

美國施泰力電子材料試驗(yàn)機(jī)
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指針式推拉力計(jì)

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液壓試驗(yàn)機(jī)

電子試驗(yàn)機(jī)

電子拉力試驗(yàn)機(jī)
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英國工業(yè)測量顯微鏡
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X射線衍射儀進(jìn)口品牌咨詢

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X射線衍射儀進(jìn)口品牌咨詢，X射線衍射儀進(jìn)口品牌價(jià)格，X射線衍射儀進(jìn)口品牌代理商-武漢科賽思機(jī)電有限公司（X射線衍射儀優(yōu)質(zhì)服務(wù)商）

測量殘余奧氏體的含量，對于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測量遵循國際標(biāo)準(zhǔn)ASTM E975-03規(guī)則。

殘余奧氏體

鋼的硬化過程是首先加熱到奧氏體相，然后淬火到室溫轉(zhuǎn)變?yōu)橛操|(zhì)的馬氏體相。奧氏體在高溫鋼中呈現(xiàn)面心立方結(jié)構(gòu)（FCC），冷卻時(shí)，鋼體大部分轉(zhuǎn)化為體心立方結(jié)構(gòu)（BCC）的鐵素體，或者轉(zhuǎn)變?yōu)轶w心正方結(jié)構(gòu)（BCT）的馬氏體。根據(jù)冷卻鋼的速率，會有一部分鋼仍為奧氏體（通常為0-40%），因此稱為殘余奧氏體。

奧氏體的結(jié)構(gòu)比鐵素體還有馬氏體的結(jié)構(gòu)都要大，如果在轉(zhuǎn)變過程中有殘余奧氏體存在，隨著時(shí)間的延長，產(chǎn)品中的殘余奧氏體會轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌囿w，這些變化會導(dǎo)致產(chǎn)品的形狀發(fā)生改變。此外，其他的物理性能，如硬度和強(qiáng)度，都會隨著不同相體的轉(zhuǎn)變而發(fā)生變化，這些變化最終會影響到產(chǎn)品的使用壽命。

X射線衍射法來測量殘余奧氏體的百分比含量

X射線衍射法可以準(zhǔn)確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量，能夠?yàn)殇撹F熱處理過程控制提供可靠保證，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

X射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量最準(zhǔn)確的方法。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機(jī)取向的標(biāo)準(zhǔn)方法，ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。

由于奧氏體相結(jié)構(gòu)與其他相的結(jié)構(gòu)不同，在不同的測試點(diǎn)，奧氏體會產(chǎn)生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值。鋼中相的總數(shù)和與其衍射峰值的強(qiáng)度成正比。簡單來說，殘余奧氏體總的含量與奧氏體峰值的強(qiáng)度和其他相峰值強(qiáng)度比有關(guān)。我們利用X射線衍射儀采集四個衍射峰值來確定殘余奧氏體的濃度，兩個分別是鐵素體和馬氏體，兩個是奧氏體。通過四個峰值強(qiáng)度的對比可以獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。

ARE X衍射儀可以測量奧氏體（220）（311）、鐵素體（200）（211）的衍射峰值強(qiáng)度，并分別提供四個奧氏體/鐵素體的峰值強(qiáng)度比。通過多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向的帶來的影響，同時(shí)對檢測到的碳化物干擾加以計(jì)算。

樣品制備

標(biāo)準(zhǔn)的金相濕研磨和拋光方法，表面拋光：由碳化硅或氧化鋁砂紙 600 到 80 目；

表面研磨： 6 到 0.2 μ m 的金剛石或氧化鋁瓷。

ARE X衍射儀技術(shù)參數(shù)

X射線發(fā)生器	輸出功率	3KW
	輸出穩(wěn)定性	<0.01% (電源供給10%的波動）
	輸出電壓	60KV
	輸出電流	60mA
	電壓步寬	0.1KV
	電流步寬	0.1mA
	波動	0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz
	預(yù)熱與電路	自動預(yù)熱和斜坡控制電路
	輸入電壓	230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相
X射線光管	光管類型	玻璃（可選陶瓷），Mo靶材，細(xì)焦斑（可根據(jù)要求選其他型號）
	焦斑尺寸	0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF)
	準(zhǔn)直	單毛細(xì)管準(zhǔn)直器:直徑1 - 2毫米
	輸出電壓	3KV
測角儀	配置	垂直測角儀
	掃描角范圍	27° < 2θ< 40°
	角準(zhǔn)確度	± 0.001°
樣品臺	尺寸	110 mm x 150 mm
探測器	類型	高分辨率，帶直接耦合（微米）光纖輸入的X射線數(shù)碼攝像儀和帶制冷CCD
機(jī)體	尺寸	658 mm X1059 mm X762 mm
機(jī)體	X射線泄露量	< 1 mSv/年（按照國際準(zhǔn)則充分安全屏蔽）
處理單元	計(jì)算機(jī)類型	個人計(jì)算機(jī)
	控制對象	X射線發(fā)生器、探測器和數(shù)據(jù)庫
	基本數(shù)據(jù)處理	建立校準(zhǔn)曲線，殘余奧氏體計(jì)算

儀器特性

符合國際標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E975-03

使用精密的自動反饋控制電路獲得的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性。

自動調(diào)整高電壓與電流輸出脈動值。

大功率、優(yōu)質(zhì)的玻璃（陶瓷）X 射線管，電壓可至60KV。

高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器。

2θ角度范圍：27 to 40°。

樣品臺尺寸：110 mm x 150 mm。

高分辨率CCD探測器。

采集時(shí)間：小于5分鐘。

雙安全防輻射電路模塊。

自帶校準(zhǔn)。

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