高精度薄膜厚度測量儀

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Labthink蘭光高精度薄膜厚度測量儀CHY-C2A采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
　　
高精度薄膜厚度測量儀CHY-C2A技術指標
負荷量程：0 ～ 2 mm（常規） 
0 ～ 6 mm；12 mm （可選） 
分辨率：0.1 μm 
測量速度：10 次/min （可調） 
測量壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張） 
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張） 
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制 
電源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
凈重：32kg 

執行標準： 
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

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