耶拿電感耦合等離子體發射光譜儀ICP-OES 返回列表頁

超高分辨率光學系統-高靈敏度-可靠的分析結果

高分辨率光學系統du有的超高光學分辨率確保在實際樣品分析時獲得wu與倫比的靈敏度、準確性和精密度。由全密閉雙單色器分光系統和zui 新一代高像素分辨率CCD檢測器構成的高分辨率中階梯光學系統，在全光譜范圍（160~900nm)任選譜線進行光譜分析。200nm處光譜分辨率可達2pm，輕松解決樣品光譜干擾。多達43000發射譜線可選，zui 優化分析發射譜線的選擇，并揭示樣品的光譜細節。高靈敏度無干擾發射線的選擇為準確定量樣品中痕量元素提供zui 優化解決方案。內置氖燈動態波長校正，確保波長的長期穩定和準確（優于0.0004nm),無需長時間的預熱，PlasmaQuant 9100系列冷開機15min即可進入正常分析狀態.

• 靈活：可選發射譜線最多

• 準確：無干擾高靈敏度發射譜線

• ji致：業內zui jia檢出限

• 快速：預熱時間短

操作簡單：V Shuttle 矩管

可拆卸組合是即插即用V Shuttle矩管，其簡潔的設計操作簡單維護方便。內外管及中心樣品管實現wan全可拆卸操作，可根據應用需求靈活組合，大大降低了后期使用和維護成本。矩管基座導軌設計，卡插定位，自動連鎖氬氣。矩管自動準直、無需調節，大大改善儀器操作的靈活性。垂直等離子體與生俱來的優勢在高基體樣品分析時，可以獲得更高的分析精度和zui低的空白值。無需根據樣品基體類型進行大比例稀釋也可以保證矩管不受積鹽積碳的影響，確保分析結果的長期穩定性。

• 最小化由于維護帶來的儀器宕機時間

• 適用樣品類型范圍廣，分析性能優異

• 降低最小運行成本

• 矩管安裝定位無需準直

增強型等離子體雙向觀測

實際分析中主量元素和痕量元素需要不同的等離子體觀測模式，任意一條發射譜線在不同的等離子體觀測模式靈活選擇。2+2增強型等離子體雙向觀測可允許在同一樣品中自由選擇4種不同觀測模式，滿足從亞ppb到%的同步測量。軸向和徑向觀測模式的信號強度自動衰功能極大拓展了ICP OES的線性范圍。氬氣反吹尾焰技術在不影響等離子體穩定性的前提下，消除了尾焰光譜干擾。2+2增強型等離子體雙向觀測在提高分析靈敏度和精密度的前提下高效便捷的完成分析任務，并縮減樣品前處理的準備時間消耗。

• zui有化等離子體觀測模式，無需折中調和

• 氬氣反吹技術徹di消除尾焰干擾

• 無分析濃度斷檔、無需分組稀釋，可滿足ppb~%的同步測量

• 最小化樣品前處理要求

RF射頻發生系統

對于ICP-OES來說，在任何樣品基體重保持強勁、穩健的等離子體分析性能依然是一個挑戰。PlasmaQuant 9100射頻發生系統可從容應對最復雜樣品基體的測試需求，顯著擴大儀器適用樣品的范圍。PlasmaQuant 9100射頻發生系統出色的強勁穩定，使其在復雜基體中依然可以獲得極低的檢出限并在zui大程度上減少樣品前處理過程，這些都使得測試結果更加精準、分析方法更加穩定，不斷提高測試效率。自激式40MHz射頻發生器通過四繞組感應線圈將能量高效的傳輸至等離子體工作區域，功率范圍700~1700W，即使面對重基體的飽和食鹽水、金屬精礦、揮發性有機物等樣品，等離子體依然可以強勁穩定的激發。PlasmaQuant 9100射頻發生系統可快速完成預熱，即開即測，儀器利用率高.

• 可分析任何挑戰性復雜基體樣品

• 可直接分析未經稀釋的高基體樣品，并獲得出色的精密度和準確度

• 最寬的應用范圍

• 確保在復雜基體分析中依然獲得業內zui jia檢出限